품질시스템 연구실 졸업생인 배영목 박사가 지난 7월 7일 개최된 제27회 한국테스트학술대회에서 최우수 논문상을 수상하였습니다.

본 학술대회는 반도체·전자 분야의 현업 엔지니어들이 테스트 관련 주제를 중심으로 발표하고 교류하는 자리로, 배영목 박사는 품질시스템 연구실에서 함양한 역량을 바탕으로 수행한 연구를 통해 그 성과를 인정받았습니다.

앞으로의 행보에도 큰 성취와 발전이 함께하길 기원하며, 다시 한번 진심으로 축하드립니다.

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